Zarejestruj Zaloguj się
English flag  English Język Polski flag  Język Polski
Pokaż Nr 20 (2024)

Nr 20 (2024)

ISSN:
1895-247X
eISSN:
2657-3571

Data publikacji:
2024-12-17

Dział: Recenzje

Avinoam J. Patt, The Jewish Heroes of Warsaw: The Afterlife of the Revolt

Tom Navon

tomnavon@mishol.org.il

Tom Navon – dr, wykładowca w School for Regional and Historical Studies na Uniwersytecie w Hajfie. W latach 2020–2023 stypendysta Leibniz-Institut für jüdische Geschichte und Kultur – Simon Dubnow w Lipsku. Jego zainteresowania badawcze koncentrują się na Żydach w lewicowej polityce w krajach Europy Środkowej i Wschodniej. Opublikował dwie monografie – o marksistowskich interpretacjach historii żydowskiej (2023, po hebrajsku) oraz Radical Assimilation in the Face of the Holocaust: Otto Heller (1897–1945) (2024). Obecnie bada historię żydowskich komunistów w getcie warszawskim

ORCID logo https://orcid.org/0000-0003-1264-8923

a:1:{s:5:"pl_PL";s:19:"University of Haifa";}

Zagłada Żydów. Studia i Materiały, Nr 20 (2024), Strony: 801-805

Data zgłoszenia: 2024-07-26

Data publikacji: 2024-12-17

DOI logo https://doi.org/10.32927/zzsim.1076
PDF

Licencja

Prawa autorskie (c) 2024 Autor&"Zagłada Żydów. Studia i Materiały"

Creative Commons License

Utwór dostępny jest na licencji Creative Commons Uznanie autorstwa 4.0 Międzynarodowe.

https://creativecommons.org/licenses/by/4.0

Czasopismo publikowane jest w standardzie Diamond Open Access na licencji CC-BY-4.0 Deed - Uznanie autorstwa 4.0 Międzynarodowa - Creative Commons

Altmetryki

Cytowania w Google Scholar - kliknij ikonę, aby sprawdzić

HTML tutorial

Statystyki

Navon, T. (2024). Avinoam J. Patt, The Jewish Heroes of Warsaw: The Afterlife of the Revolt. Zagłada Żydów. Studia I Materiały, (20), 801–805. https://doi.org/10.32927/zzsim.1076

Udostępnij

Pokaż Nr 20 (2024)

Nr 20 (2024)

ISSN:
1895-247X
eISSN:
2657-3571

Data publikacji:
2024-12-17

Dział: Recenzje

 
 
Zagłada Żydów. Studia i Materiały/Holocaust Studies and Materials ISSN: 1895-247X eISSN: 2657-3571 DOI: 10.32927